LIBROS ELECTRÓNICOS
Documento sin título

X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing
ISBN: 9781420005653
D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
CRC Press - 2006
En Taylor & Francis Group

Xray CT for Geomaterials : Soils, Concrete, Rocks International Workshop on Xray CT for Geomaterials, Kumamoto, Japan
ISBN: 9781439834299
Jun Otani, Yuzo Obara
Taylor & Francis  - 2004
En Taylor & Francis Group
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